Տեղեկատվական տեխնոլոգիաների կրթական եւ հետազոտական կենտրոն
YSU Information Technologies Educational and Research Center
ԵՊՀ տեղեկատվական տեխնոլոգիաների (SS) կրթական և հետազոտական կենտրոնը ստեղծվել է 2007 թ-ին:
>
Գուրգեն Էդիկի Հարությունյան

Ասիստենտ | Տեղեկատվական համակարգերի ամբիոն
Կրթություն
2005 - 2008 թթ. Երևանի պետական համալսարան, Ինֆորմատիկայի և կիրառական մաթեմատիկայի ֆակուլտետ, տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի աստիճան
2003 - 2005 թթ. Երևանի պետական համալսարան, Ինֆորմատիկայի և կիրառական մաթեմատիկայի ֆակուլտետ, մագիստրոսի աստիճան
1999 - 2003 թթ. Երևանի պետական համալսարան, Ինֆորմատիկայի և կիրառական մաթեմատիկայի ֆակուլտետ, բակալավրի աստիճան
1998 - 1999 թթ. Աբովյան քաղաքի վարժարան
1994 - 1998 թթ. դպրոց N2, քաղաք Աբովյան
1989 - 1994 թթ. դպրոց N10, քաղաք Աբովյան
Տեխնիկական գիտությունների թեկնածու, 2008, Երևանի պետական համալսարան

Աշխատանքային գործունեություն
2010 - 2012 թթ. Սինոփսիս, ավագ ճարտարագետ
2004 - 2010 թթ. Վիրաժ Լոջիկ, ավագ ճարտարագետ
2000 - 2004 թթ. Երևանի պետական համալսարան, ծրագրավորող

Գիտական հետաքրքրությունների շրջանակը
Հիշող սարքերի տեստավորում

Պարգևներ
Ուսանողական կամավորական ծառայությունների համար` Ջերալդ Գորդոնի անվան մրցանակ, Միջազգային Տեստավորման Գիտաժողով, ԱՄՆ, 2008
Լավագույն ուսանողական աշխատություն, Արևելք-Արևմուտք Նախագծման և Տեստավորման Գիտաժողով, Ռուսաստան, 2006

Լեզուներ
Հայերեն, Ռուսերեն, Անգլերեն

Վերջին հրապարակումները (47)
G. Harutyunyan , S. Martirosyan, S. Shoukourian , Y. Zorian
Memory Physical Aware Multi-Level Fault Diagnosis Flow
2020 | Հոդված/Article
IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing, VOLUME 8, NO. 3, JULY-SEPT. 2020, pp.700-711
Fault Awareness for Memory BIST Architecture Shaped by Multidimensional Prediction Mechanism
2019 | Հոդված/Article
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2019, Volume 38, Number 3, 562-575 էջ
Hayk Grigoryan, Grigor Tshagharyan, Gurgen Harutyunyan , Samvel Shoukourian , , Yervant Zorian
DETECTION OF ADDRESS ERRORS IN MEMORY DEVICES USING MULTI-SEGMENT ERROR DETECTION CODES
2019 | Արտոնագիր/Patent
Patent No.: US 11/023,310, Date of Patent: June 1, 2021, Appl. No. 16/549,419, filed on August 23, 2019.

Hayk Grigoryan, Grigor Tshagharyan, Gurgen Harutyunyan, Samvel Shoukourian, Yervant Zorian
Security Issues in Test and Repair Infrastructure for Systems-on-Chip
2017 | Հոդված/Article
Информационно-коммуникационные технологии в науке, производстве и образовании ICIT-2017. 2017, стр. 114-122
|
Testing electronic memories based on fault and test algorithm periodicity
2017 | Արտոնագիր/Patent
SYNOPSYS, INC. (Mountain View, CA). 9831000. Nov 28, 2017
D. Sargsyan, Gurgen Harutyunyan , Samvel K. Shoukourian , Yervant Zorian
Automated flow for test pattern creation for IPs in SoC
2017 | Հոդված/Article
EWDTS. 2017: 21-24 pp
|
S. Martirosyan, Gurgen Harutyunyan , Samvel K. Shoukourian , Yervant Zorian
An efficient testing methodology for embedded flash memories
2017 | Հոդված/Article
EWDTS. 2017: 422-425 pp
|
G. Tshagharyan, Gurgen Harutyunyan , Samvel K. Shoukourian , Yervant Zorian
Experimental study on Hamming and Hsiao codes in the context of embedded applications
2016 | Հոդված/Article
EWDTS, 2017: 25-28 pp.
|
Lusine Martirosyan, Gurgen Harutyunyan , Samvel K. Shoukourian , Yervant Zorian
A power based memory BIST grouping methodology
2015 | Հոդված/Article
East-West Design & Test Symposium (EWDTS). 2015, p. 27-30
|
Grigor Tshagharyan, Gurgen Harutyunyan , Samvel K. Shoukourian , Yervant Zorian
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories
2015 | Հոդված/Article
East-West Design & Test Symposium (EWDTS). 2015, p. 19-22
|
Grigor Tshagharyan, Gurgen Harutyunyan , Samvel K. Shoukourian , Yervant Zorian
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories
2015 | Հոդված/Article
East-West Design & Test Symposium (EWDTS), Batumi, Georgia September 26-29, 2015, pp. 5-9 (english)
Lusine Martirosyan, Gurgen Harutyunyan , Samvel K. Shoukourian , Yervant Zorian
A power based memory BIST grouping methodology
2015 | Հոդված/Article
East-West Design and Test Symposium (EWDTS), Batumi, Georgia September 26-29, 2015, pp. 11-15 (english)
Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm
2014 | Հոդված/Article
East-West Design & Test Symposium (EWDTS), Kiev, Ukraine September 26-29, 2014, pp. 5 - 9 (english)
“An Efficient Fault Diagnosis and Localization Algorithm for Successive-Approximation Analog to Digital Converters''
2012 | Հոդված/Article
Proc. IEEE East-West Design and Test Symposium, Kharkov National University of Radioelectronics, Kharkov, Ukraine, Sep. 14-17, 2012, pp. 15-18
“A New Method for March Test Algorithm Generation and Its Application for Fault Detection in RAMs”
2012 | Հոդված/Article
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD), Volume 31, Number 6, June 2012, pp. 941-949
M. HG, J. Shah, H. Chukhajyan, G. Harutyunyan
“TCAM BIST Methodology and Test Scheme”
2012 | Հոդված/Article
Synopsys Users Group Conference (SNUG), India, 2012
“Fault and Test Algorithm Periodicity Hypothesis in Memory Devices and Its Application to Memory BIST Processor Architecture”
2012 | Հոդված/Article
Reports of National Academy of Sciences of Armenia, 2012, Vol. 112, No. 3, pp. 229-238
"An Efficient Fault Diagnosis and Localization Algorithm for Successive-Approximation Analog to Digital Converters"
2012 | Հոդված/Article
IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS), Ukraine, 2012, pp. 15-18
K. Amirkhanyan, A. Davtyan, G. Harutyunyan , T. Melkumyan, S. Shoukourian , V. Vardanian , Y. Zorian
"Application of Defect Injection Flow for Fault Validation in Memories"
2012 | Հոդված/Article
IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS), Ukraine, 2012, pp. 19-22
Karen Amirkhanyan, Karen Darbinyan, Arman Davtyan, Gurgen Harutyunyan , Samvel Shoukourian , Valery Vardanian , Yervant Zorian
“GENERATION OF MEMORY STRUCTURAL MODEL BASED ON MEMORY LAYOUT”
2012 | Հոդված/Article
No. 13/531,189, Filing date – June 22, 2012
“Generic BIST Architecture for Testing of Content Addressable Memories”
2011 | Հոդված/Article
IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), Greece, 2011, pp. 86-91
“Implementation of a Flexible BIST Architecture Based on Programmability of Test Operations, Patterns and Algorithms”
2011 | Հոդված/Article
Computer Science and Information Technologies (CSIT), Armenia, 2011, pp. 287-290
“A Robust Solution for Embedded Memory Test and Repair”
2011 | Հոդված/Article
IEEE Asian Test Symposium (ATS), India, 2011, pp. 461-462
“Symmetry Measure for Memory Test and Its Application in BIST Optimization”
2011 | Հոդված/Article
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), Volume 27, Number 6, December 2011, pp. 753-766
“TESTING ELECTRONIC MEMORIES BASED ON FAULT AND TEST ALGORITHM PERIODICITY”
2011 | Հոդված/Article
No. 13/183,468, Filing date - July 15, 2011
Karen Amirkhanyan, Hayk Grigoryan, Gurgen Harutyunyan , Tatevik Melkumyan, Samvel Shoukourian , Alex Shubat, Valery Vardanian , Yervant Zorian
“DETECTING RANDOM TELEGRAPH NOISE INDUCED FAILURES IN AN ELECTRONIC MEMORY”
2011 | Հոդված/Article
No. 13/183,471, Filing date - July 15, 2011
“DETERMINING A DESIRABLE NUMBER OF SEGMENTS FOR A MULTI-SEGMENT SINGLE ERROR CORRECTING CODING SCHEME”
2011 | Հոդված/Article
No. 13/310,479, Filing date – December 2, 2011
“Minimal Algorithms for Testing Content-Addressable Memories”
2010 | Թեզիս/Thesis
In proc. of IEEE East-West Design & Test Symposium 2010, St. Petersburg, Russia, September 17-20, 2010
“Minimal March Test Algorithms for Detection of All Realistic Two-Operation, Two-Cell Dynamic Faults from Subclasses Sav and Sva”
2010 | Հոդված/Article
Reports of National Academy of Sciences of Armenia, 2010, Vol. 110, No. 2, pp. 143-150
G. E. Harutyunyan , D. V. Melkumyan
“Fault Location and Diagnosis Algorithm for Static and Dynamic Faults in SRAMs”
2010 | Հոդված/Article
Proceedings of the National Academy of Sciences of Armenia and the State Engineering University of Armenia. Series of Technical Sciences, 2010, Vol. 63, No. 3, pp. 280-287
H. Avetisyan, G. Harutyunyan , V.A. Vardanian , Y. Zorian
“An Efficient March Test for Detection of All Two-Operation Dynamic Faults from Subclass Sav”
2009 | Հոդված/Article
IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS), Russia, 2009, pp. 175-178
“An Efficient March Test Algorithm for Detection of Resistive Shorts in Multi-Port SRAMs”
2009 | Հոդված/Article
Computer Science and Information Technologies (CSIT), Armenia, 2009, pp. 435-438
“An Efficient March-Based Three-Phase Fault Location and Full Diagnosis Algorithm for Realistic Two-Operation Dynamic Faults in Random Access Memories”
2008 | Հոդված/Article
IEEE VLSI Test Symposium (VTS), USA, 2008, pp. 95 – 100
G. Harutunyan , D. Melkumyan, H. Elchyan, V. Vardanian
“An Efficient Method for Generation of March Tests Based on Formulas”
2008 | Հոդված/Article
Mathematical problems of cybernetics and computer science, Armenia, 2008, pp. 5-17
“Efficient March-Like Algorithm for Detection of All Two-Operation Dynamic Faults from Subclass Sav”,
2008 | Հոդված/Article
Mathematical problems of cybernetics and computer science, Armenia, 2008, pp. 18-24
“Minimal March Tests for Detection of Dynamic Faults in Random Access Memories”
2007 | Հոդված/Article
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), Volume 23, Number 1, February 2007, pp. 55-74
"A March-Based Fault Location Algorithm with Partial and Full Diagnosis for All Simple Static Faults in Random Access Memories”
2007 | Հոդված/Article
IEEE Design and Diagnosis of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Poland, 2007, pp. 145-148
“Minimal March Tests for Dynamic Faults in Random Access Memories”
2007 | Հոդված/Article
IEEE European Test Symposium (ETS), Germany, 2007, pp. 223 – 227
“An Efficient 2-Phase March Algorithm for Full Diagnosis of All Simple Static Faults in Random Access Memories”
2007 | Հոդված/Article
IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS), Armenia, 2007, pp. 110-113
“A Software Tool for Generation of March Algorithms for Faults in SRAMs”
2007 | Հոդված/Article
IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS), Armenia, 2007, pp. 444-447
”Minimal March-Based Fault Location Algorithm with Partial Diagnosis for All Static Faults in Random Access Memories”
2006 | Հոդված/Article
IEEE Design and Diagnosis of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Czech Republic, 2006, pp. 260-265
Minimal March Test Algorithm for Detection of Linked Static Faults in Random Access Memories”
2006 | Հոդված/Article
IEEE VLSI Test Symposium (VTS), USA, 2006, pp. 120-125
“Minimal March Tests for Dynamic Faults in Random Access Memories”
2006 | Հոդված/Article
IEEE European Test Symposium (ETS), UK, 2006, pp. 43-48
“A March Based Algorithm for Location and Full Diagnosis of All Unlinked Static Faults”
2006 | Հոդված/Article
IEEE Memory Technology, Design and Testing (MTDT), Taiwan, 2006, pp 9-14
“A March Test for Full Diagnosis of All Simple Static Faults in Random Access Memories”
2006 | Հոդված/Article
IEEE East-West Design and Test Workshop (EWDTW), Russia, 2006, pp. 68-71
“Minimal March Tests for Unlinked Static Faults in Random Access Memories”
2005 | Հոդված/Article
IEEE VLSI Test Symposium (VTS), USA, 2005, pp. 53-59
Minimal March-Based Fault Location Algorithm with Partial Diagnosis for Random Access Memories”
2005 | Հոդված/Article
Computer Science and Information Technologies (CSIT), Armenia, 2005, pp. 519-522