Բաբկեն Օքսենի Սեմերջյան
Կենսագրություն
Կրթություն
1960 - 1964 թթ. – Երևանի ինֆորմատիկայի պետական քոլեջ (նախկին Էլեկտրոնային հաշվողական մեքենաների (ԷՀՄ)տեխնիկում)
Տեխնիկ-էլեկտրամեխանիկի որակավարում “ԷՀՄ, սարքեր և սարքավորումներ” մասնագիտությամբ
1965 - 1970 թթ. - Երևանի պետական համալսարանի ֆիզիկայի ֆակուլտետ
Ռադիոֆիզիկոսի որակավորում “ ռադիոֆիզիկա և էլեկտրոնիկա” մասնագիտությամբ
1972 - 1976 թթ.- Ստ-Պետերբուրգի (Լենինգրադի) ԽՍՀՄ ԳԱ ակադ. Ա. Ֆ. Իոֆֆեի անվան ֆիզիկա-տեխնիկական ինստիտուտի նպատակային ասպիրանտուրա (“Ոչ հավասարակշիռ պրոցեսները կիսահաղորդիչներում” լաբորատորիա ) “Կիսահաղորդիչների և դիէլեկտրիկների ֆիզիկա” մասնագիտությամբ

Աշխատանքային և հետազոտական կենսագրություն
1963 - 1965 թթ. - Երևանի Մաթեմատիկական մեքենաների գիտահետազոտական ինստիտուտ, ԷՀՄ տեխնիկ - էլեկտրամեխանիկ
1969 - 1971 թթ. – ԵՊՀ ԳԲՀ Ռադիոֆիզիկայի ամբիոն, լաբորանտ
1971 - 1972 թթ և 1976-1989թթ. – ԵՊՀ Կիսահաղորդչային նյութերի և սարքերի պրոբլեմային լաբորատորիա, րտսեր գիտական աշխատող
1989 - 2005 թթ – ԵՊՀ Կիսահաղորդչային նյութերի և սարքերի պրոբլեմային լաբորատորիա, գիտական աշխատող
2005 թ-ից մինչ այժմ ԵՊՀ Կիսահաղորդչային սարքերի և նանոտեխնոլոգիաների կենտրոն, կրտսեր գիտական շխատող
1977 թ-ից մինչ այժմ ԵՊՀ Կիսահաղորդիչների ֆիզիկայի և միկրոէլեկտրոնիկայի և կիսահաղորդչային սարքերի և նանոտեխնոլոգիաների կենտրոն, նյութական պատասխանատու անձ

Ակադեմիական կուրսեր/ Դասավանդական և նախապատրաստական փորձառույթներ
1. “Իմպուլսային տեխնիկա” – ԵՊՀ Ֆիզիկայի ֆակուլտետ, ԳԲՀ Ռադիոֆիզիկայի ամբիոն, դասախոսություն
2. “Միջուկային էլեկտրոնիկայի կիսահաղորդչային սարքեր” - ԵՊՀ ՖԻզիկայի ֆակուլտետ, Միջուկային ֆիզիկայի ամբիոն, դասախոսություն
“Էլեկտրոնային մեթոդները և միջոցները ֆիզիկական էքսպերիմենտի չափումներում” - ԵՊՀ ՖԻզիկայի ֆակուլտետ, Միջուկային ֆիզիկայի ամբիոն,դասախոսություն
3. “Բյուրեղաֆիզիկա” - ԵՊՀ Ռադիոֆիզիկայի ֆակուլտետ, Կիսահաղորդիչների ֆիզիկայի և միկրոէլեկտրոնիկայի ամբիոն, լաբորատոր աշխատանքներ
“ԳԲՀ Կիսահաղորդչային սարքեր” - ԵՊՀ Ռադիոֆիզիկայի ֆակուլտետ, Կիսահաղորդիչների ֆիզիկայի և միկրոէլեկտրոնիկայի ամբիոն, լաբորատոր աշխատանքներ, դասընթացների, լաբորատոր աշխատանքների ապահովում

Հիմնական հետազոտական նախընտրություններ/ փորձագիտական ոլորտներ
Ոչ հավասարակշիռ պրոցեսների հետազոտումը նոր կիսահաղորդչային նյութերում և կառուցվածքներում (Ֆոտոլումինեսցենցիա, ֆոտոհաղորդականություն , գազային զգայունություն)
Տարբեր մեթոդներով մշակված ծակոտկեն մակերեսով կիսահաղորդչային նոյւթերի մորֆոլոգիայի հետազոտումը էլեկտրոնային տեսածրային և օպտիկական մանրադիտակների օգնությամբ

Ընթացիկ հետազոտական նախընտրություններ
Նանոէլեկտրոնային գազային տվիչների մակերեսային շերտի գազազգայունության ուսումնասիրումը ստատիկ և աղմկային բնութագրերի միջոցով, տարբեր աշխատանքային պայմաններում
Գազային տվիչներով ազդարարիչների բնութագրերի ջերմային հատկությունների կատարելագործումը

Մասնագիտական և ոչ մասնագիտական կազմակերպությունների անդամակցում
1. Հայաստանի էլկտրոնային մանրադիտողների ընկերության անդամ
2. ՀՀ Բնապահպանության նախարարությունում պետական ծառայողների աշխատանքի ընդունելության հանձնաժողովի անդամ

Միջազգային մենաշնորհների մասնակցություն
International Science and Technology Center (ISCTC)
Grant –Project # A – 322;
International Science and Technology Center (ISCTC)
Grant –Project # A – 1232;
International Science and Technology Center (ISCTC)
Grant –Project # A – 1951;
Civilan Research and Development Foundation (CRDF)
Grant –Project IPP – CRDF – ARP-2-2678-YE-05

Լեզուներ
Հայերեն, ռուսերեն, անգլերեն

semicsemer@ysu.am

Բաբկեն Օքսենի Սեմերջյան

Կրտսեր գիտաշխատող | Ռադիոֆիզիկայի ֆակուլտետ - Կիսահաղորդիչների ֆիզիկայի և միկրոէլեկտրոնիկայի ամբիոն
 
 

Գիրք/Book

Арутюнян В.М, Барсегян Р.С., Семерджян Б. О.

Исследование влияния облучения электронами различных доз на свойства полупроводниковых фотоприемников и преобразователей солнечной энергии | Отчет по научно-исследовательской работе по хоз. договору ПД-18, проводимой в ЕГУ и в ЕрФИ для ЕрФИ, 1986, гос.рег. N 0186.0130298, УДК 621.383.4, c. 80

Арутюнян В.М., Барсегян Р.С, Семерджян Б. О

Исследование и разработка метода фотоемкостной спектроскопии для определения профиля распределения глубоких центров в полупроводниках | Отчет по научно-исследовательской работе по хоз. договору ПД-17, проводимой в ЕГУ для СКВ ИРФЭ АН Арм. ССР, 1985, гос.рег. N0185.051340, УДК 621.383.4, c. 30
 

Հոդված/Article

Р. В. Оганесян , Г. Д. Хондкарян, М. С. Алексанян, В. М. Аракелян, Б. О Семерджян, В. М. Арутюнян, Ф. В. Гаспарян

Статические и щумовые характеристики нанокомпозитных газовых сенсоров | Известия АН Арм. ССР. Физика. – 2014 г. – Т , 5c.

B. O. Semerjyan

Gas Detector Thermal Testing Chamber with on Trial Gas Mixtures | Semiconductor Micro and Nanoelectronics. Proc. of the Ninth International Conference, May 24-26, Yerevan, Armenia, 2013, p. 91, p. 4

F.V. Gasparyan, P.A.Varderesyan, B. O. Semerjyan

Low-frequency noise special measurement chamber | Semiconductor micro -and nanoelectronics. Proc. of the Eight International Conference. Yerevan, Armenia, July 1-3 2011,p. 6

B. O. Semerjyan, A.E. Ckhachatryan

Colour iridizations and backscattering electron imaging in the study of metal alloy microstructures | Semiconductor micro -and nanoelectronics. Proc. of the Sixth International Conference. Tsakhkadzor, Armenia, pp. 184-187. September 18-20, 2007, p. 4

Z.N. Adamian, B. O. Semerjyan, Kh.S. Martirosyan

Aging of porous silicon based photoelectric structures | Hydrogen energy.- Russia, 2006, т.6, вып.12. стр. 33, p. 4
1   2   3   4   5   6   7   8  |  Տեսնել բոլորը
 

Թեզիս/Thesis

Семерджян Б. О , Мартиросян Х.С

"Исследования методами СЭМ и локальной лазерной фотолюминесценции фотодиодных структур со слоем пористого кремния" | Тезисы докладов XX Российской конференции "Электронная микроскопия", проведенной в г. Черноголовка. – 2004, c. 1

Semerjyan B. O, Semerjian A.B

Investigation of Porous Surface Area Participating in Transcapillary Metabolism | SCANNING.-2001.-Vol.23, N2. Proceedings of SCANNING 2001, New York, NY, USA, p, 1.

B. O. Semerjyan

Study of the Porous Surface Microstruc-tures' Profile with the Method of Stereo-microgonio-metry in SEM | Proceedings of the IX International Meeting on Electron Microscopy. World of Microstructure. N4. Yerevan. 2000, p. 1

B. O. Semerjyan

SEM Beam backscattered Electron Multiplier Silicon Sensor | Proceedings of the VIII International Meeting on Electron Microscopy. World of Microstructure. N4. Yerevan. 1999, p. 1

B. O. Semerjyan

Quantitative Analysis of Surface Roughness by SEM | Proceedings of the VIII International Meeting on Electron Microscopy. World of Microstructure. N4. Yerevan. 1999, p. 1
1   2   3  |  Տեսնել բոլորը