Статья
Security Issues in Test and Repair Infrastructure for Systems-on-Chip
Публикации
Статья
ИНСТРУМЕНТАЛЬНАЯ СРЕДА ДЛЯ ПРЕДСТАВЛЕНИЯ И ОБРАБОТКИ НЕЧЕТКИХ ЗНАНИЙ И ЕЕ ПРИЛОЖЕНИЯ
Статья
Canonical Data Model for Data Warehouse
2016
72-79
Образовательный Руководство
ԽՆԴԻՐՆԵՐԻ ԼՈՒԾՈՒՄ PROLOG ԼԵԶՎՈՎ
2016
114
Статья
Effective Algorithms to Support Grid Files
Конференция
An efficient approach for memory repair by reducing the number of spares.
Конференция
Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm.
Конференция
A power based memory BIST grouping methodology.
Конференция
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories.
Конференция
Securing Test Infrastructure of System-on-Chips
Конференция
String Matching in Case of Periodicity in the Pattern
Конференция
Armenia: Communicating to World Community in Electronic Test and Design
Конференция
An Ontology Approach to Data Integration (Extended Abstract)..
Патент
Testing Electronic Memories Based on Fault and Test Algorithm Periodicity
Патент
FINFET-BASED MEMORY TESTING USING MULTIPLE READ OPERATIONS
Патент
DETECTION OF ADDRESS ERRORS IN MEMORY DEVICES USING MULTI-SEGMENT ERROR DETECTION CODES
Электронный материал
Հաշվողական համակարգերի Նախագծման տեսություն
