Հրապարակումներ
Հոդված
Memory Physical Aware Multi-Level Fault Diagnosis Flow
Հոդված
Fault Awareness for Memory BIST Architecture Shaped by Multidimensional Prediction Mechanism
Հոդված
Experimental study on Hamming and Hsiao Codes in the Context of Embedded Applications
Հոդված
Automated Flow for Test Pattern Creation for IPs in SoC
Հոդված
An Efficient Testing Methodology for Embedded Flash Memories
Հոդված
Security Issues in Test and Repair Infrastructure for Systems-on-Chip
Գիտաժողովի նյութ
Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm.
Գիտաժողովի նյութ
A power based memory BIST grouping methodology.
Գիտաժողովի նյութ
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories.
Արտոնագիր
Testing Electronic Memories Based on Fault and Test Algorithm Periodicity
Արտոնագիր
FINFET-BASED MEMORY TESTING USING MULTIPLE READ OPERATIONS
Արտոնագիր
DETECTION OF ADDRESS ERRORS IN MEMORY DEVICES USING MULTI-SEGMENT ERROR DETECTION CODES
