Հոդված
Security Issues in Test and Repair Infrastructure for Systems-on-Chip
Հրապարակումներ
Հոդված
ИНСТРУМЕНТАЛЬНАЯ СРЕДА ДЛЯ ПРЕДСТАВЛЕНИЯ И ОБРАБОТКИ НЕЧЕТКИХ ЗНАНИЙ И ЕЕ ПРИЛОЖЕНИЯ
Հոդված
Canonical Data Model for Data Warehouse
2016
72-79
ՈՒսումնական ձեռնարկ
ԽՆԴԻՐՆԵՐԻ ԼՈՒԾՈՒՄ PROLOG ԼԵԶՎՈՎ
2016
114
Հոդված
Effective Algorithms to Support Grid Files
Գիտաժողովի նյութ
An efficient approach for memory repair by reducing the number of spares.
Գիտաժողովի նյութ
Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm.
Գիտաժողովի նյութ
A power based memory BIST grouping methodology.
Գիտաժողովի նյութ
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories.
Գիտաժողովի նյութ
Securing Test Infrastructure of System-on-Chips
Գիտաժողովի նյութ
String Matching in Case of Periodicity in the Pattern
Գիտաժողովի նյութ
Armenia: Communicating to World Community in Electronic Test and Design
Գիտաժողովի նյութ
An Ontology Approach to Data Integration (Extended Abstract)..
Արտոնագիր
Testing Electronic Memories Based on Fault and Test Algorithm Periodicity
Արտոնագիր
FINFET-BASED MEMORY TESTING USING MULTIPLE READ OPERATIONS
Արտոնագիր
DETECTION OF ADDRESS ERRORS IN MEMORY DEVICES USING MULTI-SEGMENT ERROR DETECTION CODES
Էլեկտրոնային նյութ
Հաշվողական համակարգերի Նախագծման տեսություն
