Լեզուների իմացություն
Հայերեն
English
Русский
Українська
Հրապարակումներ
Հոդված
Results of Validation Analysis for Multi-Memory Bus BIST Engines
Հոդված
Repair of Resistive Open Defects on Word-Lines and Bit-Lines of SRAMs
Հոդված
An Approach for Increasing Memory Repair Efficiency
Հոդված
Analytics for AI Related Applications of Multidimensional Multitape Finite Automata
Հոդված
Functional Safety Compliant Test & Repair Framework for System-on-Chip Lifecycle Management
Հոդված
Polynomial algorithm for equivalence problem of deterministic multitape finite automata
Հոդված
Memory Physical Aware Multi-Level Fault Diagnosis Flow
Հոդված
Fault Awareness for Memory BIST Architecture Shaped by Multidimensional Prediction Mechanism
Հոդված
Experimental study on Hamming and Hsiao Codes in the Context of Embedded Applications
Հոդված
Automated Flow for Test Pattern Creation for IPs in SoC
Հոդված
An Efficient Testing Methodology for Embedded Flash Memories
Հոդված
Security Issues in Test and Repair Infrastructure for Systems-on-Chip
Գիտաժողովի նյութ
An efficient approach for memory repair by reducing the number of spares.
Գիտաժողովի նյութ
Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm.
Գիտաժողովի նյութ
A power based memory BIST grouping methodology.
Գիտաժողովի նյութ
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories.
Գիտաժողովի նյութ
Securing Test Infrastructure of System-on-Chips
Գիտաժողովի նյութ
Armenia: Communicating to World Community in Electronic Test and Design
Արտոնագիր
Testing Electronic Memories Based on Fault and Test Algorithm Periodicity
Արտոնագիր
FINFET-BASED MEMORY TESTING USING MULTIPLE READ OPERATIONS
