2023թ. ապրիլի 24-26-ը ԱՄՆ Կալիֆոռնիա նահանգի Սան Դիեգո քաղաքում կայացավ IEEE VLSI Test Symposium (VTS) գիտաժողովը, որտեղ ելույթով հանդես եկավ ՏՏԿՀ կենտրոնի պրոֆեսոր՝ տ.գ.դ. Գուրգեն Հարությունյանը: Գիտաժողովը նվիրված է միկրոէլեկտրոնային սխեմաների և համակարգերի թեստավորման, հուսալիության և անվտանգության ուսումնասիրությանը։ Պրոֆեսոր Հարությունյանը, ով հանդիսանում է սույն գիտաժողովի ծրագրային կոմիտեի փոխնախագահը, ներկայացրել է երկու գիտական հոդված․ առաջինը՝ նվիրված արտաքին հիշող սարքերի թեստավորման արդյունավետ լուծմանը, իսկ երկրորդը՝ նորագույն ներդրված հիշող սարքերի թեստավորման և վերանորոգման հետ կապված մարտահրավերների հաղթահարմանը:
Գ․ Հարությունյանը 80-ից ավելի գիտական հոդվածների հեղինակ է, զեկուցել է շուրջ 40 միջազգային հեղինակավոր գիտաժողովներում, հանդիսանում է մի շարք միջազգային գիտաժողովների ծրագրային կոմիտեի անդամ, ունի 8 ամերիկյան արտոնագիր։
